1. 基本校準：適用于測量光滑物件表面涂層，或者測量物件的材料、面積和曲率和我們隨機附帶基體接近。
2. 零點校準：建議開始任何一項測量任務前都進行零點校準，測量中途出現可疑誤差，也可隨時作歸零操作。
3. 一點校準：預先估計待測量涂層厚度，使校準點盡量靠近待測厚度，可以有效實現高精度測量。此校準方法可以輕松地使測量誤差控制在+-(1%...3%)+1um/1.5um(傳感器自身系統誤差)
4. 二點校準：和一點校準相似，盡量使待測涂層厚度范圍與兩點校準點接近，以更好修正待測范圍內的誤差。該校準用于粗糙表面涂層測量和高精度的光滑涂層表面測量。